К вопросу о повышении точности метода частичных отражений

Abstract

На основе экспериментальных исследований установлены основные источники отличия экспериментальных профилей плотности электронов от теоретических. С помощью модельных расчетов установлены возможности повышения точности метода частичных отражений.

На основі експериментальних досліджень встановлено основні джерела відмінності експериментальних профілів щільності електронів від теоретичних. За допомогою модельних розрахунків встановлені можливості підвищення точності методу часткових відбиттів.

On the basis of experimental studies, the main sources for distinguishing the experimental electron density profiles from the theoretical ones are established. With the help of model calculations, it is possible to increase the accuracy of the method of partial reflections.